晶圓接觸角測(cè)量?jī)x全自動(dòng)
晶圓接觸角測(cè)量?jī)x使用先進(jìn)的專(zhuān)用CCD數(shù)碼相機(jī),配備高分辨率變焦顯微鏡和高亮度LED背景光源系統(tǒng),并配備可移動(dòng)的三維樣品臺(tái)桌子上下,來(lái)回。實(shí)現(xiàn)微注射,上下左右精確運(yùn)動(dòng)。同時(shí),還設(shè)計(jì)了帶有伸縮桿結(jié)構(gòu)的工作臺(tái),可以適應(yīng)不同用戶(hù)的厚度增加的場(chǎng)合??梢愿鶕?jù)樣式的大小適當(dāng)調(diào)整樂(lè)器框架,從而擴(kuò)大了樂(lè)器的使用范圍。該軟件具有校正功能自動(dòng)測(cè)量設(shè)備,多次測(cè)試后的結(jié)果可以同時(shí)保存在同一份報(bào)告中自動(dòng)測(cè)量設(shè)備,從而使用戶(hù)可以更好地控制材料數(shù)據(jù)。該儀器設(shè)計(jì)優(yōu)美,操作簡(jiǎn)單,滿足用戶(hù)需求。
晶片表面分析,檢查和測(cè)量系統(tǒng)以及晶片表面張力分析系統(tǒng)適用于半導(dǎo)體晶片(Wafer)工藝的質(zhì)量控制。提供對(duì)晶片(華夫餅)表面的快速,準(zhǔn)確的接觸角/表面能分析,以評(píng)估附著力,清潔度和涂層。輕巧的設(shè)計(jì),易于組裝的功能以及基于Windows標(biāo)準(zhǔn)的新的用戶(hù)友好型軟件被用于創(chuàng)建準(zhǔn)確且易于使用的接觸角測(cè)量?jī)x器系統(tǒng)??梢蕴崞鹱⑷氲巫C(jī)構(gòu)以利于裝載,從而消除了對(duì)晶圓(晶圓)的可能損壞。用于晶片表面分析,也用于需要測(cè)量大體積樣品的其他分析應(yīng)用。允許的最大樣本為300 X 300 X 19mm。
接觸角測(cè)量?jī)x主機(jī)的操作視頻和圖片以及測(cè)試視頻:
(1)主機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì)概念的高強(qiáng)度航空鋁合金結(jié)構(gòu),自主開(kāi)發(fā)的集成芯片電路控制可確保儀器運(yùn)行良好;

(2)成像部分采用高性能的日本進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯和無(wú)畸變的遠(yuǎn)心鏡頭,以確保良好的成像效果。
([3)工業(yè)級(jí)可調(diào)節(jié)LED單波長(zhǎng)冷光源系統(tǒng),用于更清晰的成像
([4)自動(dòng)位移平臺(tái),實(shí)現(xiàn)Y,Z自動(dòng)定位測(cè)量,定點(diǎn)位置更準(zhǔn)確,測(cè)量效率更高
規(guī)格:
主機(jī)的整體尺寸:長(zhǎng)1200mm *寬600mm *高670mm凈重:55KG
工作臺(tái)尺寸:420mm * 420mm
工作臺(tái)移動(dòng):自動(dòng),行程160mm,精度0.01mm;垂直運(yùn)動(dòng),手動(dòng),行程20mm,精度0.01mm
噴油器運(yùn)動(dòng):自動(dòng)上下60mm(自動(dòng));左右30mm

工業(yè)鏡頭:來(lái)回移動(dòng)30mm(微調(diào)3mm),0.7X *-4.5X連續(xù)變焦顯微鏡
CCD:SONY進(jìn)口高速工業(yè)級(jí)芯片;鏡頭角度可以調(diào)整:可以從多個(gè)角度向上,向上和向下查看
光源:LED可調(diào)藍(lán)調(diào)工業(yè)級(jí)冷光源;使用壽命超過(guò)255,000小時(shí)
電源和功率:220V / 60HZ
晶圓產(chǎn)品加工前的文字報(bào)告和測(cè)試圖片:我們?cè)谑畟€(gè)點(diǎn)測(cè)試樣品,平均角度為72.04度。

晶圓產(chǎn)品加工后的文字報(bào)告和測(cè)試圖片:我們?cè)谑畟€(gè)點(diǎn)測(cè)試了樣品,然后用等離子清潔劑對(duì)其進(jìn)行了處理,平均角度為16.58度。
標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)報(bào)告:儀器檢查信息
儀器名稱(chēng):
接觸角測(cè)量?jī)x

檢查時(shí)間:
2018.1 0.08
儀器型號(hào):
SDC-500
綜合判斷:合格
檢查單位:東莞圣鼎精密儀器有限公司
檢查員:趙薇主管:張新飛

Wafer系列接觸角測(cè)量?jī)x,用于評(píng)估工藝表面涂層;
表面污染檢測(cè);
表面親和力研究;
表面潤(rùn)濕性的判斷;
涂層均勻性的檢測(cè);
涂層質(zhì)量評(píng)估;
表面清潔度檢查;
對(duì)附著力,潤(rùn)濕特性,粘結(jié)質(zhì)量,表面處理的研究;
關(guān)于半導(dǎo)體晶片,硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器,平板顯示器和生物材料上的表面涂層吸收的研究。